产品介绍
HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流（Eddy Current）测试技术，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、无损伤的体电阻率测试。
无接触式电阻率型号测试仪-产品特点
测试范围广，低阻可测至0.001ohmNaN，甚至0.0007ohmNaN,高阻可测至100ohmNaN
产品体积小，便于移动和携带
采用涡流法测试硅锭、棒、回炉料体电阻率
无接触、无损伤快速测试
测试前无需表面处理
特别对于多晶，能够有效避免晶界对测试的影响
测试范围：0.001-100 ohmNaN (分段测试）
可选加无接触PN型号测试功能
可进行温度和厚度的修正
无接触式电阻率型号测试仪-技术指标
硅棒硅块可测量电阻率范围：0.001-100OhmNaN
最小测试厚度：200μm
测量时间：2秒/次
最小测试面积：30x30 mm2
推荐使用温度：20
湿度：80%
气压：86-106kPa
使用电压：230±10V
频率，50±3Hz
功率消耗：5W
尺寸（LxWxH）：280x200x60mm
典型客户
美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。