实验室具备从0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低温温度试验系统，具备独立的搭接样品的空间，试验箱一侧均具备出线端子，可以引出电源线或信号线进行产品的工作操作试验。
高低温测试试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。
高低温测试试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。
高低温High and low temperature testing试验方法：
预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。
样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。
在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。
试验资质：
要求具备国家认可的CNAS,CMA第三方检测机构进行试验，并出具带CNAS,CMA印章检测报告。
检测咨询136-9109-3503彭工。